Nhiễu xạ tia X

Bằng cách thu lại các nhiễu xạ này ngƣời ta có thể dễ dàng phân tích cấu trúc chất rắn, vật liệu[8]. c) Cấu tạo máy nhiễu xạ tia X Hình ảnh máy nhiễu xạ tia X và sơ đồ nguyên lý của máy XRD biểu diễn trên hình 1.10 dƣới đây. Nguồn phát ra tia X  Giá để mẫu  DETECTOR Bằng cách thay đổi ba bộ phận trên của máy ngƣời ta có ba phƣơng pháp đo phổ nhiễu xạ tia X.

Chê ́ tạo, nghiên cứu tính chất từ và đốt nóng cảm ứng từ của hệ hạt ferit spinel Mn 1-x ZnxFe2O4 có kích thước nano mét

2014-Nội dung luận văn.pdf

Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu MnFe 2 O 4 , (b) đỉnh nhiễu xạ (311) tổng hợp ở các nhiệt độ khác nhau.. Ảnh FESEM của mẫu MnFe 2 O 4 tổng hợp ở các nhiệt độ. hợp ở các nhiệt độ khác nhau.. Đường từ độ phụ thuộc nhiệt độ của mẫu MnFe 2 O 4 đo. trong từ trường 100 Oe tổng hợp ở các nhiệt độ khác nhau.. Đường từ độ phụ thuộc vào nhiệt độ của mẫu MnFe 2 O 4. 39 Hình 3.11. Từ độ phụ thuộc vào từ trường của mẫu Mn 1-x Zn x Fe 2 O 4 với nồng độ Zn khác nhau đo ở nhiệt độ phòng..

Oxi hóa pha lỏng stiren trên xúc tác Mg0,7 – x Cox Al0,3 (OH) 0,15.mH 2O

Nghiên cứu đặc trưng xúc tác bằng phương pháp nhiễu xạ tia X. Hình thể bề mặt hạt xúc tác đƣợc quan sát bằng kính hiển vi điện tử quét. Hình 3.2 đƣa ra ảnh SEM của 3 mẫu xúc tác M1, M2, M3. Sự tƣơng đồng về hình dạng hạt xúc tác chứng tỏ phƣơng pháp điều chế có độ lặp lại cao. Hạt xúc tác đƣợc tạo bởi các nhóm hạt có kích thƣớc từ vài chục nanomet, có hình hạt gạo, xếp chồng nhau tạo nên các khoa ̉ng không gian rỗng [16].

Nghiên cứu tổng hợp vật liệu gốm diopsit CaO.MgO.2SiO2 và ảnh hưởng của ZrO 2 đến cấu trúc, tính chất của vật liệu

luanvan-sua.pdf

Hình 3.10: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu chứa 3% CH 3 COONa 40. Hình 3.11: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu chứa 4% CH 3 COONa 40. Hình 3.12: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu chứa 5% CH 3 COONa 41. Hình 3.14: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu chứa 0,5% ZrO 2 44. Hình 3.15: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu chứa 1% ZrO 2 44. Hình 3.16: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu chứa 1,5% 45. Hình 3.17: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu chứa 2% ZrO 2 45. Hình 3.18: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu chứa 2,5% ZrO 2 46.

NGHIÊN CỨU CHẾ TẠO BỘT HUỲNH QUANG BA MÀU

THUC NGHIEM.doc

Ở đây D = L là đường kính của nano tinh thể, βhkl là độ bán rộng của vạch nhiễu xạ trung tâm, λ là bước sóng tia X. Chúng ta có thể dùng công thức này để xác định kích thước của tinh thể. Như vậy, qua sự mở rộng vạch nhiễu xạ tia X so với vật liệu khối, sử dụng giản đồ nhiễu xạ tia X với việc dùng phương pháp Debye Scherrer cho hạt hình cầu, ta có thể đo được kích thước hạt tinh thể.. Nhiễu xạ kế D8 - Avandce Brucker (CHLB Đức)..

Nghiên cứu tổng hợp tấm nano graphene từ oxít graphene bằng phương pháp chiếu xạ gamma Co-60

Bookmark not defined.. 3: So sánh tỉ lệ cường độ đỉnh D (I D ) và G (I G ) của graphite, GO và RGOE chiếu xạ ở nồng độ ethanol và liều xạ khác nhauError! Bookmark not defined.. 9 Quy trình tổng hợp Graphene từ GraphiteError! Bookmark not defined.. 11 Sự nhiễu xạ tia X bởi các mặt phẳng mạngError! Bookmark not defined.. 12 Máy nhiễu xạ tia X, D8 ADVANCE Error! Bookmark not defined.. 3 GO sau khi sấy khô (trái) và nghiền mịn (phải)Error!

Tổng hợp zeolit từ tro rơm rạ và nghiên cứu tính chất của chúng

LUAN VAN HOAN CHINH moi.pdf

Qua các giản đồ nhiễu xạ tia X trên, chúng tôi thấy việc tổng hợp zeolit A theo quy trình 1 đã thành công với nguồn silic ban đầu có thể là tro rơm rạ, rơm rạ tươi và Na 2 SiO 3. Các giản đồ nhiễu xạ tia X của các mẫu zeolit Y tổng hợp được trình bày trên hình kết quả tóm tắt trong bảng 3.12.. Hình 3.13: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu Y-1. Hình 3.14: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu Y-2. Hình 3.15: Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu Y-2N.

Nghiên cứu tổng hợp và tính chất vật liệu indium tin ôxit (ITO) để ứng dụng làm màng phủ ngăn bức xạ hồng ngoại

310560.pdf

Nguyên cứu cấu trúc vật liệu nano ITO bằng phổ nhiễu xạ X-ray Cấu trúc tinh thể của vật liệu ITO tổng hợp bằng phương pháp thủy nhiệt với nhiệt độ tổng hợp khác nhau được phân tích bằng phổ nhiễu xạ tia X như hình 3.7. Phổ nhiễu xạ X-ray của các mẫu vật liệu nano ITO với các nhiệt độ thủy nhiệt khác nhau a) 150. Khi đó, cấu trúc tinh thể của vật liệu nano ITO được thể hiện qua phổ nhiễu xạ X-ray trên hình 3.7.

Nghiên cứu chế tạo và tính chất Ferit spinen niken chứa Zn, Cr và Y, La có kích thước nanomét

000000277202-1.pdf

Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu Ni1-xZnxFe2O4 (x = 0,1 và 0,4) ủ nhiệt tại 600 °C trong 5 giờ. Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu Ni1-xZnxFe2O4 (x ủ nhiệt tại 800 °C trong 5 giờ. Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu Ni1-xZnxFe2O4 (x đơn pha ủ nhiệt tại 1100 °C trong 5 giờ. Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu Ni0,6Zn0,4Fe2O4 ủ nhiệt ở 600 °C, 800 °C và 1100 °C trong 5 giờ.

Chế tạo vật liệu hấp phụ từ tro than bay sử dụng trong phân tích môi trường (Phần 1. Chế tạo chất hấp phụ từ tro than bay)

Việc tăng thành phần Al 2 O 3 và C trong tro than bay sau xử lý sẽ làm tắnh chất của vật liệu thay ựổi theo. điều này ựược thấy rõ khi nghiên cứu phổ nhiễu xạ tia X và ảnh kắnh hiển vi ựiện tử.. Phổ nhiễu xạ tia X của tro than bay trước xử lắ cho số lượng ựỉnh không nhiều và một phần ựường nền của phổ bị nâng cao, hình 1. Phổ nhiễu xạ tia X hình 9 cho thấy trong tro than bay chỉ có quartz (SiO 2 ) và mullit (Al 6 Si 2 O 13 ) là chủ yếu.

Chế tạo, nghiên cứu và khả năng ứng dụng của vật liệu perovskite có hệ số nhiệt điện trở dương

Luan an_ LV.pdf

Phổ nhiễu xạ tia X của các mẫu BaTiO 3 (B1-B6) tổng hợp ở những nhiệt độ khác nhau.. Phổ nhiễu xạ tia X của các mẫu BaTiO 3 (B7- B10) tổng hợp ở những nhiệt độ khác nhau.. ở những nhiệt độ khác nhau (a, b, c) và của mẫu BaTiO 3 chuẩn (d).. thể rút ngắn thời gian và nhiệt độ tổng hợp vật liệu. Sự phụ thuộc của tính tứ giác vào nhiệt độ tổng hợp.. Phổ nhiễu xạ tia X của mẫu LaNiO 3 với nhiệt độ nung khác nhau.. Phổ nhiễu xạ tia X của các mẫu có nhiệt độ tạo gel khác nhau..

Ứng dụng phương pháp tán xạ Raman khảo sát một số dược chất chuẩn

311205-tt.pdf

Trong đó, các phương pháp quang phổ Raman, và phổ nhiễu xạ tia X (XRD) với các ưu điểm là phân tích nhanh, phân tích trực tiếp, không phải hoặc ít phải chuẩn bị mẫu… cho thấy tiềm năng là lời giải cho bài toán khó trên. b) Mục đích nghiên cứu luận văn Xây dựng bộ phổ tán xạ Raman chuẩn cũng như khảo sát mức độ ảnh hưởng của chất nền tới cường độ phổ, từ đó xác định định tính và định lượng của phổ chuẩn nhằm xác định thuốc Paracetamol và Aspirin giả dạng khác dược chất và dạng không đủ hàm lượng trên

Nghiên cứu tổng hợp, biến tính vật liệu mao quản trung bình SBA-15 làm xúc tác cho quá trình cracking phân đoạn dầu nặng

277069.pdf

Giản đồ nhiễu xạ tia X của SZ-SBA-15-TT ở các nhiệt độ nung khác nhau. Giản đồ nhiễu xạ tia X góc rộng của SZ-SBA-15-TT ở nhiệt độ nung 650oC 73 Hình 3.27. Giản đồ nhiễu xạ tia X của SZ-SBA-15-TT(x), x là tỷ lệ Zr/Si. Đường đẳng nhiệt hấp phụ - giải hấp phụ N2 (A) và đường phân bố kích thước mao quản theo BJH (B) của SZ-SBA-15-TT(x. Phổ XPS của SZ-SBA-15-TT(0,07. Ảnh SEM của SZ-SBA-15-TT(x), x là tỷ lệ Zr/Si. Ảnh TEM của SZ-SBA-15-TT(x), x là tỷ lệ Zr/Si.

Nghiên cứu chế tạo vật liệu nano titandioxit pha tạp bạc; ứng dụng xử lý thuốc nhuộm Rhodamine B và diệt khuẩn.

000000296319.pdf

Hình 3.2 Giản đồ nhiễu xạ tia X chuẩn của mẫu bột nano TiO2 Luận văn thạc sĩ Vũ Thái Đức Page 37 Hình 3.3 Giản đồ nhiễu xạ tia X của các mẫu bột nano TiO2 với các nồng độAg khác nhau khi nung ở 450oC Nhiễu xạ tia X của các mẫu M0-M5 trên hình 3.3 cho thấy chỉ xuất hiện các pic tại các vị trí 2θ .

Nghiên cứu ảnh hƣởng của các loại bức xạ năng lƣợng cao đến các tính chất của chấm lƣợng tử CdTe định hƣớng ứng dụng trong môi trƣờng vũ trụ

Phổ nhiễu xạ tia x của mẫu CdTe QDs tổng hợp ở 120 o sau 5 phút. Các mẫu sau khi tổng hợp đƣợc mang đi chiếu xạ bởi các nguồn chiếu xạ khác nhau.. Chúng tôi sử dụng các nguồn chiếu xạ để xử lý mẫu đó là: phát nơtron, tia-X, bức xạ photon hãm và tia-Gama. Các mẫu CdTe được chiếu xạ với các điều kiện khác nhau: Chiếu xạ photon hãm, chiếu xạ nơtron, không chiếu xạ, chiếu xạ tia gama, chiếu xạ tia X (từ trái qua phải) với cùng tỉ lệ nồng độ 100µl:1600µl.. 2.4 Kỹ thuật đo phổ hấp thụ.

Vật liệu mao quản trung bình SBA-16 biến tính bằng oxit kim loại cho phản ứng chuyển hóa n-hexan

Hình 3.4: Phổ nhiễu xạ tia X góc nhỏ của SBA-16. Hình 3.5: Phổ nhiễu xạ tia X góc nhỏ của SZ/SBA-16(a) và SZ-SBA-16(b).. Hình 3.14: Phổ nhiễu xạ tia X góc hẹp của Pt/SZ-SBA-16(a) và Pt/Al-SBA-16-0.35(b). Hình 3.6: Phổ nhiễu xạ tia X góc lớn của SZ/SBA-16(a) và SZ-SBA-16(b). Hình 3.7: Ảnh SEM của SZ/SBA-16(a) và SZ-SBA-16(b). Hình 3.3: Phổ IR của Zr-SBA-16. Hình 3.2: Phổ IR của SBA-16. Hình 3.8: Ảnh TEM của SZ/SBA-16(a) và SZ-SBA-16(b).

Chế tạo và nghiên cứu tính chất từ của các hạt Nanô Fe3O4 ứng dụng trong y sinh học